174H Sıcaklık ve Nem Kayıt Datalogger Cihazı (Tek Cihaz)
Tükeniyor
15000 TL ALIŞVERİŞLERDE ÜCRETSİZ KARGO
15 gün içinde iade değişim
256 Bit SSL ile güvende alışveriş
SEPETE EKLE
Ürün Açıklaması
Testo 174H Sıcaklık ve Nem Kayıt Datalogger Cihazı (Tek Cihaz)
TESTO 174H MİNİ DATALOGGER ÖZELLİKLERİ:- Testo 174H datalogger cihazı uzun süreli ve kararlı ölçüm yapabilen nem sensörüne sahiptir.
- Mini datalogger cihazının zamanla pili bitse bile kayıt altına aldığı veriler hafızasından silinmez korunur.
- Testo mini datalogger geniş hafıza kapasitesine sahip bir sıcaklık ve nem kayıt cihazıdır.
- Bu datalogger; yapmış olduğu sıcaklık ve nem kayıtlarını ekranda anlık olarak gösterebilmektedir.
- Testo 174h sıcaklık ve nem kayıt cihazı; grafiksel rapor verebilmektedir. (Opsiyonel özellik)
- 174H ısı ve nem kayıt cihazı; geniş ölçüm aralığına ve yüksek veri bütünlüğüne sahip bir kayıt cihazıdır.
- Testo 174H dış yapısı sağlam ve bulunduğu ortamdaki şartlara dayanıklı kompakt bir ısı ve nem kayıt cihazıdır.
- Cihaz belirlemiş olduğunuz ortam sıcaklığı ve nem değerlerinin üzerinde bir değere çıkarsa, bunu ekranda görsel bir alarm şeklinde size gösterebilmektedir.
- Testo arayüz programı ile cihazdan bilgisayara veri aktarımı yapabilmenizi sağlamaktadır. (Opsiyonel özellik)
- Testo 174H datalogger cihazı; iş yerinizde, yaşam ve depolama alanlarında, sıcaklığı ve nemi düşük bir maliyette izlemenize olanak sağlamaktadır.
TEKNİK ÖZELLİKLER
| Sıcaklık Ölçüm Aralığı | -20°C … +70°C |
|---|---|
| Sıcaklık Hassasiyeti | ±0.5°C (-20 … +70 °C) |
| Sıcaklık Çözünürlüğü | 0.1 °C |
| Nem Ölçüm Aralığı | 0 … RH |
| Nem Hassasiyeti | ±3 %RH (2 … 98 %RH) ±0.03 %RH |
| Nem Çözünürlüğü | 0.1 %RH |
| Ayarlanabilir Kayıt Aralıkları | 1 dakikadan 1440 dakika(24 saat) ya kadar kayıt aralığını kullanıcı girebilmektedir. |
| Hafıza Kapasitesi | 16.000 Adet |
| Boyutları | 60 x 38 x 18.5 mm |
| Güç Kaynağı | 2 lityum pil (CR2032) |
| Saklama Sıcaklığı | -40 … +70 °C |
| Çalışma Sıcaklığı | -20 … +70 °C |
Yorum Yap
Bu ürün için henüz yorum yapılmamış.
